如何用阻抗分析儀測試RLC

　　隨著電子產品的輕薄短小及高速率，高帶寬，5G/6G甚至更高的工作頻率，促使電子元器件的尺寸也變得越來越小，工作頻率也越來越高。這對測試電子元器件的設備要求也要同時能滿足尺寸越來越小和頻率越來越高的要求。TSK阻抗分析儀可以用來在高達3GHz的頻率范圍內測量無源器件的特性，除此之外，工程師們更可以用它來測量小至01005尺寸的 SMD器件的特性。

　　射頻阻抗/材料分析儀使用射頻電流–電壓(RF-IV)技術，可在廣泛的阻抗范圍內提供更精確的阻抗測量結果，高Q精度有利于進行低功耗元器件分析。不但可測試各種LCR 元件和半導體測試，同時可配置相關的材料測量選件，還可測量材料介電常數和導磁率。

　　測試頻率：1MHz到3GHz的掃描范圍和1mHz的分辨率。

　　阻抗測試量程：130 mΩ to 20 kΩ.基本阻抗精度是+/-0.8%

　　阻抗測量參數: |Z|, |Y|, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs(R), Rp, X, G, B, D,Q,θz,θy, |Γ|, Γx, Γy, θγ

　　材料介電常數測試參數： |εr|, εr',εr", tanδ

　　材料磁導率測試參數：|μr|, μr', μr", tanδ

　　直流偏置功能(選件001)

　　DC Bias (Option E4991A-001)：0 to±40V，分辨率: 1mV。對于器件的特性會依賴于直流電壓或電流偏置狀態的器件的測試，例如射頻電感器或陶瓷電容器等，E4991A的直流偏置功能(選件001)可以給被測器件提供直流電壓±40V)和直流電流(±50mA)的偏置這樣您不需要使用外部的直流偏置源就可以很容易地觀察到被測器件在不同的直流偏置狀態下所表現出來的特性。

　　外接直流偏置源適配器

　　如果在測量當中甚至需要更大的直流電流偏置，使用16200B外接直流偏置源適配器就可以連接一個外部的直流電流源，通過7mm測量端口給被測器件提供最大為±5A的直流偏置。使用了16200B直流偏置源適配器之后E4991A的測量頻率的上限將會被限制在1GHz。

　　多種測量夾具可選(可滿足不同封裝，不同PIN腳的測試需求)：

　　強大的用戶顯示界面

　　8.4英寸LCD顯示屏用 Windows風格的直觀的圖形化用戶界面給你顯示測量中儀表的設置狀態和測量結果，E4991A可以同時顯示3個標量和2個復數參數的測量結果。

　　強大的圖形界面

　　無源器件測試 ? 測量片狀器件，例如陶瓷電容器射頻電感、鐵氧體磁珠、電阻器等的射頻阻抗參數;

　　精確測量阻抗

　　在電子電路的設計中為了節省空間會越來越多地使用集成電路或電路模塊，也會在半導體或基片上生成薄膜電介質層以及電感器的結構，這些器件的電容值或電感值通常只有幾個pF和幾個nH。TSK射頻阻抗分析儀提供一個專門和探針臺連接的套件(選件010)，可以在范圍內精確地測量半導體裸片上的器件或微小器件的阻抗值。