阻抗分析儀對(duì)阻抗的測(cè)試方法以及優(yōu)缺點(diǎn)

　　阻抗分析儀和LCR表是非常通用的測(cè)量器件的電子儀器。根據(jù)阻抗范圍和頻率范圍的不同，有一系列不同原理的儀器來滿足測(cè)試要求，圖1是不同阻抗范圍和不同頻率范圍的阻抗測(cè)量方法。

　　圖2是自動(dòng)平衡電橋法的原理框圖。通過精確測(cè)量加載到被測(cè)件DUT的電壓和電流，從而精確測(cè)量出DUT阻抗值。從圖2中可以看出，通過DUT的電流等于通過電阻Rr的電流，而通過Rr的電流可以通過測(cè)量V2計(jì)算出來。

　　通常，在低頻(<100KHz)的LCR表里，使用一個(gè)簡(jiǎn)單的運(yùn)算放大器作為I-V轉(zhuǎn)換器，缺點(diǎn)是運(yùn)算放大器的頻響在高頻段較差。對(duì)于頻率高于 1MHz的LCR表或阻抗分析儀，I-V轉(zhuǎn)換器由精密的零位檢測(cè)器，相位檢測(cè)器和積分器(環(huán)路濾波)組成。這種儀器可以測(cè)量高達(dá)110MHz的頻率范圍。

　　圖3是RF I-V法原理框圖。RF I-V法是I-V技術(shù)在高頻范圍的擴(kuò)展，可以緊密測(cè)量高達(dá)3GHz頻率范圍的阻抗值。RF I-V電路和路徑必須仔細(xì)設(shè)計(jì)，以確保能夠以50ohm阻抗與被測(cè)件DUT相連。如果連接路徑的阻抗不是50ohm，不想要的反射將發(fā)生，將導(dǎo)致電流和電壓的測(cè)量誤差增大。RF I-V法細(xì)分為高阻和低阻兩種測(cè)量模式。實(shí)際上，測(cè)量?jī)x器保持不變，只是改變測(cè)試頭，達(dá)到兩種測(cè)量模式的要求。高阻測(cè)量模式，測(cè)試電流很小，為了正確的探測(cè)電流，電流探頭要盡量靠近DUT;低阻測(cè)量模式，為了靈敏的得到電壓值，電壓探頭要盡量靠近DUT。

　　網(wǎng)絡(luò)反射法即是網(wǎng)絡(luò)分析儀方法，在此不著介紹。

　　各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)如下。

　　1、自動(dòng)平衡電橋法優(yōu)缺點(diǎn)：

　　1)最準(zhǔn)確，基本測(cè)試精度0.05%;

　　2)最寬的阻抗測(cè)量范圍：C,L,D,Q,R,X,G,B,Z,Y,O...;

　　3)最寬的電學(xué)測(cè)量條件范圍;

　　4)簡(jiǎn)單易用;

　　5)低頻：f<110MHz。

　　2、RF I-V法優(yōu)缺點(diǎn)：

　　1)寬的頻率范圍：1MHz 2)好的測(cè)試精度，基本測(cè)試精度:0.8%;

　　3)寬的阻抗測(cè)量范圍：100m～50K@10%精度

　　4)>100MHz的最準(zhǔn)確測(cè)試方法;

　　5)接地器件測(cè)試。

　　3、網(wǎng)絡(luò)分析儀法優(yōu)缺點(diǎn)：

　　1)高頻

　　適用：f>100KHz

　　最佳：f>3GHz

　　2)適中的精度;

　　3)有限的阻抗測(cè)試范圍。